Messtechnik Taktil.

Mitutoyo Contracer CV-3200H4

Hochgenaues Konturmessgerät mit CNC-Antrieb zur hochgenauen Erfassung und Analyse von Konturen.

• CNC Gesteuerte Achsen mit (XxZ) 100x500 mm
• Auflösung: 0,04μm
• Messrichtung: sowohl ziehende als schiebend
• Tastrichtung: Abwärts oder Aufwärts
• Messkraft:  30mN
• Geradheit bei waagrechter X-Achse: 0,8 μm/100 mm
  X-Achsen-Neigungswinkel: ± 45°
• Genauigkeit X-Achse:     ± (0,8+0,01 L) μm L= Verfahrweg (mm)
  Gesamtbereit:1,8μm/100 mm
  Teilbereich: 1,05μm/25mm
• Genauigkeit Z1-Achse:     ± (1,4+0,02 H) μm H = Messhöhe über horizontaler Position

In Verbindung mit der QSpak Software lassen sich mit diesem Bildverarbeitungs-Messmikroskop einfach, zuverlässig und genau für die Einzel-, Klein- und Mittlere- Serienmessung.

Hiermit können sowohl die Konturen eines Bauteils als auch Oberflächenoptische Kriterien erfassen. Hierzu verfügt das System über drei verschiedene Beleuchungsvarianten mit unterschiedlichen Wirkungen auf die Bauteile. Diese Varianten können nach Bedarf unterschiedlich kombiniert werden.

Für die Beurteilung der zu prüfenden Objekte können sowohl Maße mit Toleranzen als auch Bilder als Vergleichsmuster festgelegt werden.

Die Auswertung erfolgt nach Vorgabe der Anforderungen. Eine Ausgabe als Excel zum Import in ein Kundeneigenes QS System kann hiermit zur Verfügung gestellt werden.

Mit diesem System sind vielfältige Messaufgaben abbildbar und müssen somit individuell geprüft werden.